Análisis morfológico

Tipo de técnica, análisis, método: Análisis morfológico

Microscopía Electrónica de Materiales: Microscopía Electrónica de Barrido (SEM); Microscopía Electrónica de Transmisión (TEM); Microscopía Electrónica de Transmisión con Barrido (STEM); Microscopía de Fuerza Atómica (AFM) y de Efecto Túnel (STM); Área Superficial, Textura y Distribución Porosa.
Equipamiento
AFM
Descripión:
Agilent
Contacto:
Dres. María de los Ángeles Montero (mmontero@fiq.unl.edu.ar) | José L. Fernández (jlfernan@fiq.unl.edu.ar)
Institución:
Tel: 0342-4571164 Int. 2519
IQAL-Facultad de Ingeniería Química Santiago del Estero 2829
Link:
Pore and Surface Area Analyser (Quantachrome, NOVA 1200e)
Descripión:
Quantachrome, NOVA 1200e
Contacto:
Prof. Carlos Renato Rambo (carlos.rambo@ufsc.br)
Institución:
LAMATE–Laboratório de Materiais Elétricos
Universidade Federal de Santa Catarina (UFSC), Brasil
Link:
SEM
Descripión:
PHENOM WORLD ProX
Contacto:
Dres. María de los Ángeles Montero (mmontero@fiq.unl.edu.ar) | José L. Fernández (jlfernan@fiq.unl.edu.ar)
Institución:
Tel: 0342-4571164 Int. 2519
IQAL-Facultad de Ingeniería Química Santiago del Estero 2829
Link:
TEM
Descripión:
JEOL modelo JEM-2100 plus) de alta resolución, TEM/STEM con emisor de hexaboruro de lantano (LaB6), voltaje de aceleración máxima de 200 kV
Contacto:
Lic. Diana E. Pedulli (secegrin@santafe-conicet.gov.ar)
Institución:
Tel: 0342-4511370 interno 1620
SECEGRIN
Link:
Zeta Sizer (Nano Malvern ZS)
Descripión:
Nano Malvern ZS
Contacto:
Prof. Dachamir Hotza (dhotza@gmail.com)
Institución:
LINDEN-Laboratório Interdisciplinar para o Desenvolvimento de Nanoestruturas
Universidade Federal de Santa Catarina (UFSC), Brasil
Link: